设备型号：JEM-2100PLUS
主要功能和特色：观察样品形貌,通过电子衍射原位分析样品的晶体结构，附件能谱仪可对样品进行成分分析。
主要规格和技术参数：
物镜极靴*1 |
超高分辨UHR |
高分辨HR |
高倾斜HT |
冷冻传输CR |
高衬度HC |
分辨率 |
点分辨率 |
0.194nm |
0.23nm |
0.25nm |
0.27nm |
0.31nm |
线分辨率 |
0.14nm |
0.14nm |
0.14nm |
0.14nm |
0.14nm |
STEM明场像*2 |
1.0nm |
加速电压 |
80、100、120、160、200kv |
倍率（TEM）*2 |
MAG模式 |
x 2,000 – 1,500,000 |
x1,500 – 1,200,000 |
x1,200 – 1,000,000 |
x1,000 – 800,000 |
Low MAG模式 |
x 30 – 6,000 |
x 30 – 2,000 |
SA MAG模式 |
x 8,000 – 800,000 |
x 6,000 – 600,000 |
x 5,000 – 600,000 |
x 5,000 – 400,000 |
倍率（STEM）*2 |
MAG模式 |
x 2,000 – 2,000,000 |
Low MAG模式 |
x 100 – 15,000 |
生产厂家：日本电子
购置日期：2019年
设备管理员：张阁
联系电话：029-81469750
电子邮箱：
