型号：JSM-6390A
功能：可进行金属、半导体、非金属、有机物等材料样品的的形貌观测（二次电子像SEI）、原子序数像观测（背散射像BSE），并配有能谱分析析仪(EDS)，可对材料成分和元素分布状态进行分析。

参数：放大倍数为5-300000倍。样品台尺寸为：X=80mm，Y=40mm，Z=5到48mm，倾斜：-10-+90度，旋转：360度。

负责人：邢立伟